ＣＡＥ技術者の大半は間違っておりまして 注意です

★設計屋（企業）さんは・・・　 スキルに依存しない定量評価技術を要望
★ＣＡＥ（解析）技術者は・・・　スキルの重要性を主張

この結果、将来どうなるかいいますと、最悪は、ＣＡＥ技術者⇒破滅となります。
スキルに左右される評価技術は、企業では有用とみなされませんので


大学は賢いと優や秀　アホなら可や不可。差をつけられます。
その価値観のまま会社でやってますとアウト。
可・不可を食らう駄目人間が使える定量評価技術。　強く望まれるＣＡＥはその線です

ＣＡＥは評価術なので、勉学やスキル次第では、ブレて使えない
海外の異文化の考えに、毒されぬよう注意。

あちらは人も金も時間も潤沢。日本流には全然合いません。
また改善・改良・作込み　そんな概念も希薄で、随分違います。

アイソパラメトリック要素は、Jの絶対値が小さくなると、精度喪失

xyによる偏微分は、直接求める事が位置関係上困難なため、
写像変換させたξη系での、偏微分から求めます。
角度が90度である場合は、確か右辺は回転の写像変換になります。
角度が90度から外れるとJの絶対値が小さくなり、妙な事になって行きます
テコのような効果が発生、真に無理からの写像変換になる感じです。


アイソパラメトリック要素の場合、収束じゃ、全て写像変換させた値にての話。
だから、収束すれば解＝ＯＫなんてことはありません。
写像変換に無理があればアウト　なので昨今は使われない傾向　ですが　」四角系統のアイソパラメトリック要素は
直角・直線・段差・積層・多層など　設計の基本に強い
長所があります。非線形にも強いです、

テトラ要素は、写像変換を行なわず
多用される方向です
テトラ要素は、１節点が共有する要素の数が、変動
直角・直線・段差・積層・多層に弱いなどの注意点もあります

x-y偏微分は、ξ-η系の偏微分から置換させて算出。 これが誤差の元で・・。

微分は２点の値の差で計算できます。
ｘやｙで偏微分を行うためには、２点がX座標に平行　Y座標に平行である必要　があります
X軸　または　Y軸に　平行な点と点でしか　偏微分はできません
点が都合よく分布していないため、点が都合よい分布になっている　別の座標系に写像変換
そこで偏微分を行います。


差分法の場合は、支配式を解く計算は　写像変換させた値にて実施。　
最後は　x-y-z系　に変換させ　解を得ます。メッシュが駄目だと駄目だったりします。
ＦＥＭも、内挿関数は写像変換を使い偏微分しますので、似た事が起こります


A-B　C-Dが90度の位置関係ですと（AのハットやBのハットは、回転写像）で求まります。　　そうでない時は、AやBのハット算出は、変な具合の計算。よくできた手法ではあるのですが。