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インクジェット

Ｒ＆Ｄ支援センターでは6月15日(月)に

「インクジェットの均一吐出技術」
安定吐出し続ける！着弾精度の向上へ！その課題と対策を伝授！

と題しましたセミナーを開催いたします。

セミナーの詳細は⇒
http://www.rdsc.co.jp/seminar/090624.html

インクジェットは、実験室でごく容易に吐出できる反面、実用的に安定して長期間運転し続けることは容易ではない。

　本講座では、インクジェットの均一吐出技術について、長年にわたって各種インクジェット（圧電およびバブル）を開発してきた講師の体験と理論に基づき、原理的な説明をするとともに具体的な課題、対策についても詳説する。インクジェットヘッド、装置およびインクなどに関係する開発、設計、製造、使用に携わる多くの技術者にとってきわめて有益であろう。

　また講演内容に関係なく、日ごろ疑問に思っている質問にもできるだけお答えします。

１.はじめに
　1-1 インクジェットの種類
　1-2 コントラスト感度関数（ＣＳＦ）

２.不均一の概要

３.インクジェットヘッドのモデル化
　3-1 集中定数回路とラプラス変換
　3-2 「押し打ち」の式
　3-3 薄膜PZT
　3-4 解析モデルの種類
　　3-4-1 集中定数モデル
　　3-4-2 圧力波モデル
　　3-4-3 ＣＦＤ
　3-5 パラメータの計算

４.例題ヘッドの具体的な計算／パラメータ変動と特性変化
　4-1 インクの挙動
　4-2 ノズル長さ、ノズル径、供給路長さ、供給路断面積のばらつきと特性変化
　4-3 圧力室幅、圧力室長さ、ＰＺＴ厚さ、振動版厚さのばらつき
　4-4 インク粘度、インク密度、インク音速の変動
　4-5 ３０μmの気泡の存在
　4-6 圧電定数、駆動電圧のばらつき
　4-7 速度変動に効く要因は何か（まとめ）
　4-8 吐出量変動に効く要因は何か（まとめ）

５.押打ちと引打ちの比較

６.速度と吐出量の関係

７.速度変動と着弾精度

８.いろいろな不均一
　8-1 サテライト
　8-2 フェザーリング、ビーディング、モトリング、ブリーディング

９.経時的ばらつきの要因と具体的対策
　9-1 気泡
　9-2 残留振動
　9-3 インク蒸発、界面凝集
　9-4 ノズル面汚れ

１０.その他の対策
　10-1 マルチパス
　10-2 ノズル個別補正（ＤＰＮ）
　10-3 ヘッドシェイディング補正　

【質疑応答・名刺交換】

パーティクルカウンタ

Ｒ＆Ｄ支援センターでは6月19日（金）に
「パーティクルカウンタの正しい使い方」
と題しましたセミナーを開催します。

講座内容のポイント
　パーティクルカウンタは比較簡便な測定器であり，結果も数値で出るため誰が測定しても正しい値が出ているように受け取られる。しかし，測定方法を誤れば大きな誤差を伴うことになる。　本講演では，どうすれば正しい測定結果が得られるかをその測定原理を基に解説する。また，可能な範囲で実演を行う。清浄度が高い場合は粒子数が少ないが，このような場合，母集団である試料の粒子数濃度をどのように見積もれば良いのかを統計処理を含めて解説する。さらに，実測例や規格動向についても解説する。パーティクルカウンタには空気用と液体用があるが，空気用を中心としながら液体用及びその測定法についても触れる。最後に国際規格，JIS規格の動向について解説する。

プログラム

１．粒子計測・管理の必要とする分野
1-1 原子力から化粧品まで

２．粒子の大きさとは
2-1 粒子の大きさの定義

３．粒子の挙動
3-1 拡散，沈着
3-2 空気，液体中の粒子

４．パーティクルカウンタの原理
4-1 光と粒子の相互作用
4-2 粒径校正
4-3 計数効率
4-4 分解能
4-5 偽計数

５．測定誤差要因
5-1 原理上避けられない誤差
5-2 測定方法，データ解析による誤差

６．清浄度が高い場合の評価
6-1 統計的解釈
6-2 測定結果がゼロ個の解釈

７．測定上の注意
7-1 チューブの材質，長さ，流量による影響
7-2 小さな不注意で大きな誤差
7-3 測定の失敗例

８．国際規格の動向
8-1 クリーンルームのISO
8-2 パーティクルカウンタのISO
8-3 個数の国際標準

詳細⇒http://www.rdsc.co.jp/seminar/090613.html

偏光･複屈折

Ｒ＆Ｄ支援センターでは、6月17日（水）に

「偏光･複屈折の基礎と正しい測定･評価方法」
と題しましたセミナーを開催いたします。

講座のポイント
　近年の多くの光学技術やオプトエレクトロニクス部材などの開発には偏光や複屈折の知識が要求される。ここでの対象は従来の光弾性法で得られないような小さな応力や高分子の配向によって生じる複屈折など様々である。高分子分野では二色性や円二色性も重要な物理量となっている。しかしながら偏光は実際に目に見えない上に理論と一致しないという光学でも一番わかりにくい分野である。

本講義は偏光・複屈折とは何かという基礎的な部分からスタートして、偏光の測定・解析法について，ストークスパラメータとミュラー行列を用いてわかりやすく解説する。さらに実例として光ディスク、液晶ディスプレイ、バイオ生体など高分子での偏光や複屈折について実例を挙げながらこのメカニズムについて解説するとともに、これらの検査方法である偏光計や複屈折分布測定法についてお話しする。以上の講義によって偏光関連カタログや論文を理解できるようになることを目標とする。

プログラム

１．偏光の基礎
　　1-1．偏光状態とは？(直線偏光、円偏光など)
　　1-2．偏光状態の具体例
　　　　A．複屈折、位相差(リターデイション)と主軸方位
　　　　B．旋光性
　　　　C．二色性
　　　　 D．円二色性
　　　　E．偏光解消(デポラリゼーション)
　　1-3．偏光状態の表記
　　　　 A．ポアンカレ―球
　　　　B．ストークス・パラメーターおよびミューラーマトリックス
　　　　C．ジョーンズベクトルおよびジョーンズマトリックス
　　　　D．偏光計算法：レンズ設計のように偏光設計をするには？
　　1-4．偏光素子

２．偏光．複屈折計測原理について
　　2-1．偏光計、エリプソメータ
　　2-2．複屈折測定法
　　　　Ａ．点計測（セナルモン法、光ヘテロダイン法）
　　　　Ｂ．面計測（位相シフト解析法など）
　　2-3．複屈折の計測装置
　　2-4．ミュラーマトリックス偏光計

３．光学材料における偏光・複屈折の実際
　　3-1．レンズの複屈折
　　3-2．光ディスクの複屈折分布
　　3-3．液晶関連（ガラス，配向膜，機能性フィルム）の偏光特性　
　　3-4．バイオ生体における偏光計測

http://www.rdsc.co.jp/seminar/090616.html

エネルギーデバイス内部の材料界面接触とレート特性

3月23日（月）

エネルギーデバイス内部の材料界面接触とレート特性

-リチウム電池・ＥＤＬＣ・固体高分子コンデンサ-

セミナーが開催されます。

デバイス性能を左右する添加剤の界面への影響は？

なぜレート特性が変化するのか？

解明し新しい材料の選択やプロセスの設計へのヒントを得る手がかりを提供します。

【講座のポイント】

材料の選択やプロセスの設計に行き詰まりを感じたときは新しい視点を導入することが大切です。
特に開発の現場では納期と成果が優先されるため、学術的な視点が失われがちになります。
電気化学などの学術の基礎的な概念を紹介しながら、エネルギーデバイスの理解を深め、
実際の現場に応用できるよう実際の例を使いながら解説し、新たなヒントを得る手がかりを提供します。

【プログラム】

１．エネルギーデバイス内部に存在する物質と電気の流れ
２．エネルギーデバイスの構造と界面
３．エネルギーデバイスの性能を左右する添加剤の界面への影響

http://www.rdsc.co.jp/seminar/090308.html

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