もう4年前になりますが、古巣の人達と一緒に実験した結果を質量分析総合討論会に発表しました。
論文書かなければと思いつつ、なかなか手を付けられませんでしたが、最近になってようやく書き始めました。
もう少しかかりますが、書きあげて投稿までもって行きます。
こうやって宣言すれば、途中で止められなくなりますからね！
で、内容はESIに軟X線を重畳照射すると、ある種の化合物でイオン強度が増加すると言う内容。
その理由をどう考察するか、色々と考えているところです。因みに、大分前に特許も出願済みです。
データを1つだけ紹介します。試薬はアントラキノンです。
上段がESIで測定したマススペクトル。構造的にはESIに向かない化合物なので、シグナル強度は低く、やっとイオンげ検出されたレベル。中段が軟X線重畳ESIのデータ。プロトン付加分子の強度は約40倍に増加しています。下段は軟X線のみ、ESIと同程度のイオン強度です。
実用化についても、何とかしたいと思っています。ご興味あれば、ご質問などお待ちしています。
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エムエス・ソリューションズ株式会社
代表取締役 髙橋 豊
E-mail: tyutaka@ms-solutions.jp
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引用元：軟X線重畳ESIイオン源の論文
