電荷減衰測定装置 | Static Decay Meter

電荷減衰測定装置

米国電荷減衰規格についての説明



FEDERAL TEST METHOD 101C METHOD 4046


(
米国連邦政府試験基準)


表記記載された測定装置(406D他同等品)を使用し下記環境で測定を行う。


温度:23±5℃(73±5°F


相対湿度:12±3


試料のサイズ:3x5インチ(7.6212.7㎝)


最低測定試料数:


以上のテスト条件に試料を2448時間放置した後、測定。

EIA541 は 48時間以上)


MIL-PRF-81705D (米軍規格、電子包装材の規格)


合格基準:


表記テスト条件で、サンプルに±5KV印加後99%に拡散するのに要する時間が2
 以下


EIA 541(米国電子工業会規格、電子包装材の規格)


合格基準:


表記テスト条件で、サンプルに±5KV印加し20msec以内に拡散させ 50±5Vになるまで
 に要する時間が2秒以下。


NFPA99(米国消防庁規格---帯電防止フィルム、シート、繊維の規格)


合格基準:


温度 23±1℃、相対湿度 50±2%の環境の中にサンプルを少なくとも25時間以上放置
 した後、サンプルに最高5000V印加後、その電位が10%になるまでに要する時間が0.5秒を超えないこと。    



HPはhttp://www.tech-triangle.jp