さて、今日も私の不得意分野
金属分析について
前回の金属分析ネタでは、
前処理の際に使用する酸による、
測定対象金属の損失例を簡単に挙げました。
今回は、
前処理に使用する酸によって、
その後の機器分析に及ぼす影響です。
まずは、
水素化物発生法による、ＡｓとSeの分析。
本分析法において、前処理に硝酸を使用すると、
残存した硝酸が、水素化物を形成する反応を妨害します。
この場合は、硝酸による分解後、
硫酸を添加し、硫酸白煙まで加熱します。
それにより、硝酸を完全に除去させることが出来ます。
実作業では硝酸と硫酸を同時に添加して処理しているようです。
次に、
電気加熱原子吸光やＩＣＰ-ＭＳ分析法による、塩酸の影響
電気加熱原子吸光法の場合、
前処理に塩酸を使うと、
炭素炉での炭化段階で塩化物として揮散する金属が多くあります。
ＩＣＰ－ＭＳ法の場合
Ａｓを測定する場合、スペクトル干渉の原因となります。
これは、Ａｓの質量数７５とアルゴン＋塩素７５とかぶる為です。
ただし、
コリジョン機能のついたＩＣＰＭＳを用いると、
スペクトル干渉の影響を受けません。
このような装置を用いると、試料に適した酸を用いることが出来るので、
非常に便利です。
では最後に分析装置と最適な酸を示します。
フレーム原子吸光法
硝酸、塩酸、過塩素酸
電気加熱原子吸光法
硝酸
誘導結合プラズマ発光分光光度法
硝酸、塩酸、過塩素酸
誘導結合プラズマ質量分析法
硝酸
＊ただし、ヘリウムコリジョン機能が有る場合は他の酸も可能
不得意分野でも少しずつ引き出しを増やしていかないとですね。
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