高圧ケーブルのＧ端子接地方式についてハッケンが・・・
長いケーブルを測定したときに、割と新しく設置環境も良いのにもかかわらず低めの数字が出ちゃうときがある
とくに、一括測定ではなく、各相において測定した場合に
これについて少し
難しいことはよくわからないけど、あくまで想像の域の話
Ｇ端子接地方式の測定をする場合、まず遮蔽層をアースから浮かした常態で芯線と遮蔽層間に１００００Ｖを印加して、ケーブル部分以外のとこからアースへ漏れた成分をキャンセルして測定するわけだけど
だいたい遮蔽層の施工はＲＳＴ各相の遮蔽層を１本にまとめて圧着し、アースへ落しているケースが多く、測定時には３相一括遮蔽層と試験相との測定になることが多いね
バラバラにできてもわざわざ一括してクリップすることもしばしば・・・
実はこれがまずい
１相ずつ測定する場合、遮蔽層が一括されていると試験相以外のケーブル芯線に誘導電圧が発生してしまい、この電圧による漏れ電流が測定器に入り込み、実際に測定したい試験相の絶縁値を低く出してしまうみたい
対策として
芯線側を３相短絡して一括で測定してしまう
まずこれをやって改善されない場合
試験相以外の相をアースに落す（誘導電圧が乗らないようにする）
大抵の場合これで良くなったりするんだけど、それでもだめなら
遮蔽層を各相バラバラにして、試験相と関係ない相をアースに落す（前段の芯線をアースに落す処置と一緒にすること）
ここまですると健全なケーブルであればまず測定値が良化するはず
これでもだめなら・・・
もっと端末を掃除するか、本気で絶縁が低下する原因が埋設部や見えないところにあると判断せざるを得ないかな