【9月28日】信頼性抜き取り試験の規模・データ数の決め方とデータ解析手法

番 号	S00921
講　師	富士ゼロックスアドバンストテクノロジー株式会社　 　　　品質保証&安全環境評価部　部長 原田　文明　氏
対　象	信頼性試験に課題のある技術者、担当者
会　場	【神奈川・溝の口駅】　 てくのかわさき 4F　展示場
日　時	平成22年9月28日(火)　10:30～16:00
定　員	25 名　※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
聴講料 お申込	1名につき45,150円(税込、テキスト費用・お茶代を含む) ※9月17日までに初めてお申込される新規会員登録者は39,900円 ◆同一法人より2名でのお申し込みの場合、69,300円 ◆早期割引:お申込確認メールでは通常料金で提示されますが早期割引を適用した価格の請求書を送付 ◆詳細・お申し込み はこちらから◆ （画面下部の項目を選択して『カゴに入れる』を選択）

【講演主旨】

最近のリコール問題に代表されるように、信頼性の不具合が企業に及ぼす影響は計り知れない。数ある品質特性の中でも信頼性は最も基本をなすものであり、短 期間に製品開発を行う中でも信頼性を確実に作り上げていくことが企業には求められている。信頼性は設計で決まる。即ち、信頼性の改善にはデータに基づく改 善が不可欠で、適切な規模の試験、サンプルの確保と解析が必要となる。本講座では、信頼性の設計・改善に関わる技術者を対象に、信頼性の概念や基礎知識を 踏まえて基本的な試験規模・データ数の決め方と解析手法を紹介するものである。

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【キーワード】
1.信頼性抜き取り試験
2.適切な試験規模
3.不具合が企業に及ぼす影響

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【プログラム】

1.信頼性づくりに向けて
　 1.1 信頼性を取り巻く環境
　 1.2 信頼性改善とナレッジマネジメント　他
　 1.3 品質と信頼性

2.信頼性の基礎
　 2.1 信頼性とは何か
　 2.2 信頼性の尺度・指標
　 2.3 故障率と寿命　他

3.信頼性の評価と試験の役割
　 3.1 信頼性のアセスメント
3.2 信頼性の評価と試験
　 3.3 信頼性試験の種類と役割　他

4.信頼性試験の設計
　4.1試験規模の決め方とOC曲線
　4.2 最小の試験規模をどう決めるのか
　4.3 サンプル数の決め方　　他

5.信頼性データとその解析方法
　5.1 信頼性データの特徴と解析上の注意
　5.2 信頼性で扱う分布
　5.3 寿命データの解析
　5.4 ワイブル解析・ハザード解析とその注意点　　他

6.信頼性で扱うモデルと代表的な解析
　 6.1 代表的な信頼性モデル
　 6.2 アレニウスモデルとその解析
　 6.3ストレス強度モデルとその解析　　　他

【質疑応答　名刺交換】

【9月27日】LEDパッケージの設計,構造,組立技術、基板への実装技術

番 号	S00921
講　師	(株)元天　代表取締役 工学博士　村上　元　氏
著作・経歴	「図 解　最先端半導体パッケージ技術のすべて」監修執筆　工業調査会 「表面実装形LSIパッケージの実装技術とその信頼性向上」産業科学システムズ　他 機械学会論文賞、エレクトロニクス学会論文賞、IMC論文賞、 ISHM論文賞外賞他 EIAJ(現JEITAの前身)半導体パッケージ外形委員会委員長、日米半導体パッケージ合同委員会創設、SEMIジャパン パッケージ委員会創設、IPSS創設など標準化活動推進 1967年上智大学理工学部機械工学科卒、日立製作所入社 半導体事業推進した武蔵 工場でIC/LSI用半導体パッケージ技術開発を推進、国内外で特許多数取得。日立電線技師長 半導体新技術研究会創設、㈱元天設立
対　象	LEDパッケージ設計,構造,組立技術、基 板実装に課題のある技術者、担当者
会　場	川崎市教育文化会館 第1学習室 　【神奈川・川崎駅】 JR川崎駅から徒歩10分
日　時	平成22年9月27日(月)　 12:30～16:30
定　員	25 名　※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
聴講料 お申込	1名につき43,050円(税込、 テキスト費用・お茶代を含む) ※9月17日までにお申込いただいた方は37,800円(要無料会員登録) ※同一法人より2名でのお申し込みの場合、69,300円 ※早期申込割引の方は会員登録後のポイントをご利用してください ◆詳細・お申し込み はこちらから◆ （画面下部の項目を選択して『カゴに入れる』を選択）

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【講演主旨】

半導体パッケージ技術は、半導体微細化技術、論理設計技術と並び電子機器の機能を高める重要な技術であり、が半導体パッケージ材料や組立装置などで世界をリードし続けている。近年、素子多層積層化技術によるSiP(System in Package)から、電子伝導の他、無線(RF)や光(フォトン)を一つのパッケージ内に実装するMiP(Multi functions in a Package)へと進化してきている。LED素子組立技術がMiP時代を切り拓く重要な技術になってきているので、現状のLED組立技術を俯瞰し、今後の開発方向や市場へのインパクトについて論調する。

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【キーワード】
1.高輝度LED,サファイア,SiN,GaN,InGaN,化合物半導体
2.高信頼LEDパッケージ材料, LED組立装置, 蛍光体,フリップチップ、
3.高放熱、高放熱材料、熱設計、ALN、PWM

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【プログラム】

1.はじめに
　1.1半導体パッケージの目的
　1.2半導体パッケージ開発
　1.3 LEDデバイス開発

2.LED用パッケージ組立技術
　2.1　LED素子の種類と製法
　　　　1)　種類;　
　　　　・GaAs系、InGaN系、　GaN,SiC系など光と波長、バンド構想
　　　　・反射効率向上など素子内の凹凸構造
　　　　・台形素子、薄型素子化
　　　　2)製法
　　　　・有機無機蒸着法(MOCVD)
　　　　・透明電極、
　　　　・金電極
　　　　3)新しい製法などの話題
　　　　・多波長のタンデム化
　　　　・MCM(Multi Chip Module)化
　　　　・LEDエピ層とMOS駆動回路との集積
　　　　・有機LED
　2.2 LED素子組立技術　
　　　　1)組立プロセス概要と代表的装置
　　　　・ダイボンディング
　　　　・金線Au-Au接合ボンディング
　　　　・金線フリップチップボンディング
　　　　・蛍光体塗布
　　　　・透明樹脂コーティング
　　　　・レンズプレス成型
　　　　2)組立用高放熱基板材料
　　　　・銅材料
　　　　・セラミック材料
　　　　・銅貼りアルミ材料
　　　　3)反射リフレクタ材料
　　　　・高反射率金属
　　　　・高反射率樹脂
　　　　・白色樹脂化
　　　　4)組立上のトラブルと対策
　　　　・ダイボンド材料のLED側面への這い上がりによる特性劣化
　　　　・Au-Sn材料ダイボンド接合部応力低減方法
　　　　・Au-Sn材料の選択のポイント
　2.3　LED用透明樹脂
　　　　1)　透明樹脂の特徴と種類
　　　　・　透明エポキシ樹脂
　　　　・　透明シリコーン樹脂
　　　　・　透明ハイブリッド樹脂
　　　　2)　透明樹脂に求められる特性
　　　　・　耐光性維持
　　　　・　接着性の向上
　　　　3)　透明樹脂のトレンド
　　　　・　蛍光体入り樹脂
　　　　・　低応力樹脂化
　　　　・　高屈折率化
　2.4　蛍光体塗布技術
　　　　1)　蛍光体の種類と要求特性　
　　　　・白色LED化　青色LED+黄色蛍光体(YAG)
　　　　・白色LED化　紫外LED+各色蛍光体
　　　　2)　塗布技術のポイント
　　　　・微粒子の高分散化
　　　　・高精度塗布量コントロール
　　　　3)　蛍光体のトピック
　　　　・蛍光体の動向
　　　　・サイアロン蛍光体など

3.LEDデバイス実装基板材料
　3.1　高放熱プリント配線基板材料の選び方
　　　　・セラミック基板　HTCC、LTCC
　　　　・アルミ材料
　　　　・高放熱銅貼版積層版
　　　　・高反射化
　　　　・白色化
　3.2　LED素子のはんだ付け実装の課題と対策
　　　　・RoHS対応はんだ付け材料の課題
　　　　・推奨最適リフロー温度
　　　　・LED素子樹脂の吸湿性と樹脂破壊・金線破断

4.LED素子信頼性評価方法
　4.1　信頼性の問題　
　　　　・ワイヤボンディング部下のマイクロクラック
　　　　・はんだ接合部のはんだ応力バランス設計
　　　　・光特性維持のための放熱設計
　4.2 　評価する上での留意点　
　　　　・材料界面の接着性非破壊検査法
　　　　・材料接合部金属間化合物生成状態の確認方法
　　　　・不純イオンによる材料腐食
　4.3　評価のしかた
　　　　・超音波顕微鏡
　　　　・断面観察方法
　　　　・超音波探傷検査法
　　　　・不純イオン付着状況確認法

5.LEDの国内外市場
　5.1 液晶表示用バックライトのLED化トレンド
　5.2　白熱灯からLED灯への切替トレンド
　5.3　車載用LEDのトレンド　
　5.4　LEDの光による可視光通信
　5.5　LED点灯駆動回路

　【質疑応答　名刺交換】

【9月24日】技術者視点の基礎から分かるパテントマップの作成法と研究データベース活用

番 号	S00981
講　師	小林技術士事務所　所長　小林征男 氏
対　象	パテントマップ作成に課題のある技術者、担当者
会　場	川崎産業振興会館 第3研修室A室 　【神奈川・川崎】 JR川崎駅から徒歩10分程度(遠方の方:最寄り新幹線JR品川駅から10分) 会場記載部分をクリックするとアクセスマップをご覧いただけます
日　時	平成22年9月24日(金)　12:30～16:30
定　員	25 名　※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
聴講料 お申込	1名につき43,050円(税込、 テキスト費用・お茶代を含む) ※9月14日までに初めてお申込いただいた方は37,800円⇒要会員登録 ※同一法人より2名でのお申し込みの場合、69,300円 ◆早期割引:お申込確認メールでは通常料金で提示されますが早期割引を適用した価格の請求書を送付 ◆詳細・お申し込み はこちらから◆ （画面下部の項目を選択して『カゴに入れる』を選択）

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【講演主旨】

特許を統計的に処理して作成されるパテントマップ(いわゆる統計的パテントマップ)は他社の出願動向を把握するなど限定された目的には有用であるが,そこから開発のアイディアを創出することは出来ない.本セミナーでは技術開発に有効なパテントマップとして時系列型,技術体系型および機能分析型のそれぞれのパテントマップについてその作成法と活用法について基礎から学ぶ.あわせて特許データベースの活用法についても紹介する。

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【キーワード】
1.統計的パテントマップ
2.技術開発に有用なパテントマップ
3.特許電子図書館の活用

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【プログラム】

1.技術開発とパテントマップ

2.特許情報の収集と活用法
2.1　特許検索システム
2.2　国際特許分類(IPC),FI記号,Fタームとは

3.特許電子図書館(IPDL)の活用法
3.1　明細書の全文の入手
3.2　審査請求,審査経過および外国出願に関する情報の入手
3.3　キーワード検索法

4.特許の権利範囲の読み方
4.1　特許請求範囲の縮小解釈
4.2　特許請求範囲の拡大解釈(均等論)

5.統計的パテントマップの作成と活用
5.1　統計的パテントマップの種類
5.2　統計的パテントマップの作成例

6.時系列パテントマップの作成と活用
6.1　時系列パテントマップの特長
6.2　時系列パテントマップの作成例

7.技術体系パテントマップの作成と活用
7.1　技術体系パテントマップの特長
7.2　技術体系パテントマップの作成例

8.機能分析型パテントマップの作成と活用
8.1　機能分析型パテントマップの特長
8.2　機能分析型パテントマップの作成手順
8.3　機能分析型パテントマップの作成例

9.アイディア発想法とパテントマップ
9.1　ブレインストーミング法の活用
9.2　TRIZの活用

10.網羅的特許網の構築　
10.1　網羅的特許網の作成手順
10.2　網羅的特許網の作成例

【質疑応答・名刺交換】