本日も電気系会議がありました．
電気系会議という題目で会議を行っていますが中身は電力収支がどうのこうのだとか，フェーズだのシーケンスだのモードだのといったことについて議論を交わしました．
こういう会議の後はなぜか目がさえてしまって夜なかなか寝付けないことがあります．昨日はそれとは関係なく全然眠れなくて，最近自分の体内時計が把握できなくなっています．
ユーロ2012はすごく興味があるのですが家にテレビがないせいで結局1試合も見ていません．ピルロがどうだったとかCロナがどうだとか，ちゃんとテレビで試合を見ているN先輩がうらやましいです．
<注>以下の文章は人に読んでもらおうという意思が全くなく．書いた人の自己満足のための文章ですので大変読みにくくなっています．もちろん読み返したりもしていません．
ところで放射線に関しての議論をある会議でするつもりだったのですが，放射線の話になる前に話が違うところで落ち着いてしまい結局しなさそうなのでここで書いておこうと思います．
ICを選定する際信頼性の観点から放射線に関して十分に考慮しますが，それがどの程度必要なのかということに関してです．あるICを含むシステムに対して放射線耐性による信頼性の低下と，放射線試験などに時間をとられてしまいソフトの開発時間が減少することによる信頼性の低下はどちらのほうが効くのか，とか，放射線対策としてマイコンを2つに分けた場合，放射線による致命的な影響を減らせてリスクが減るのか素子と基板間の半田にクラックができたりヒューマンエラーがでる可能性が増加してリスクが増えるのか，どっちなのかと考えていました．
ちなみに放射線による影響にはシングルイベントとトータルドーズがあります．シングルイベントはシステムで対処できますが，トータルドーズは永久破壊です．しかし，運用期間の短い小型衛星では考慮しなくていいとのこと．いっぽうでシングルイベントは対処できるうえにしょっちゅうおこるようなものではない(??)らしいです．シングルイベントでもフラッシュメモリには致命的な影響を与えることもあるそうですが，ソースの文章は考量しなくていい(風な)書き方だったり，実際フラッシュメモリなんていくらでも宇宙に飛んでるといった事実があります．
これらのことだけでなく，我々のプロジェクトの進捗状況を踏まえて放射線に関する信頼性評価を考慮に入れるかどうかを一度考えてみてもいいのではと思いました．というか個人の結論では放射線試験などがあまりにも大変だから放射線試験しなくてもいいのでは？(シングルイベントを除く．シングルイベントは試験したほうがいいと思う)それよりソフトのバグを徹底的につぶしたり，半田にクラックが入らない工夫をしたりといったことに時間を使ったほうがいいのではと考えています．むしろMBED等を積極的に使っていくぐらいでもいいのではないかと…．
過去に宇宙に行ったことがあるという実績でICを評価するが，そのICは，放射線に強いかもしれないがそれの使い方やそれの加工法，製作者の能力がそろって初めて成功しているわけであって同じものを使ったからと言って信頼性が上がっているかどうかわからない気がします．
とどのつまりこの衛星開発において放射線対策による信頼性の増加量を，ほかのそれに対して順位づけし，プロジェクト内で共有して思想を一貫させる必要があるのではないかと思った次第です．おわり．
go ni
電気系会議という題目で会議を行っていますが中身は電力収支がどうのこうのだとか，フェーズだのシーケンスだのモードだのといったことについて議論を交わしました．
こういう会議の後はなぜか目がさえてしまって夜なかなか寝付けないことがあります．昨日はそれとは関係なく全然眠れなくて，最近自分の体内時計が把握できなくなっています．
ユーロ2012はすごく興味があるのですが家にテレビがないせいで結局1試合も見ていません．ピルロがどうだったとかCロナがどうだとか，ちゃんとテレビで試合を見ているN先輩がうらやましいです．
<注>以下の文章は人に読んでもらおうという意思が全くなく．書いた人の自己満足のための文章ですので大変読みにくくなっています．もちろん読み返したりもしていません．
ところで放射線に関しての議論をある会議でするつもりだったのですが，放射線の話になる前に話が違うところで落ち着いてしまい結局しなさそうなのでここで書いておこうと思います．
ICを選定する際信頼性の観点から放射線に関して十分に考慮しますが，それがどの程度必要なのかということに関してです．あるICを含むシステムに対して放射線耐性による信頼性の低下と，放射線試験などに時間をとられてしまいソフトの開発時間が減少することによる信頼性の低下はどちらのほうが効くのか，とか，放射線対策としてマイコンを2つに分けた場合，放射線による致命的な影響を減らせてリスクが減るのか素子と基板間の半田にクラックができたりヒューマンエラーがでる可能性が増加してリスクが増えるのか，どっちなのかと考えていました．
ちなみに放射線による影響にはシングルイベントとトータルドーズがあります．シングルイベントはシステムで対処できますが，トータルドーズは永久破壊です．しかし，運用期間の短い小型衛星では考慮しなくていいとのこと．いっぽうでシングルイベントは対処できるうえにしょっちゅうおこるようなものではない(??)らしいです．シングルイベントでもフラッシュメモリには致命的な影響を与えることもあるそうですが，ソースの文章は考量しなくていい(風な)書き方だったり，実際フラッシュメモリなんていくらでも宇宙に飛んでるといった事実があります．
これらのことだけでなく，我々のプロジェクトの進捗状況を踏まえて放射線に関する信頼性評価を考慮に入れるかどうかを一度考えてみてもいいのではと思いました．というか個人の結論では放射線試験などがあまりにも大変だから放射線試験しなくてもいいのでは？(シングルイベントを除く．シングルイベントは試験したほうがいいと思う)それよりソフトのバグを徹底的につぶしたり，半田にクラックが入らない工夫をしたりといったことに時間を使ったほうがいいのではと考えています．むしろMBED等を積極的に使っていくぐらいでもいいのではないかと…．
過去に宇宙に行ったことがあるという実績でICを評価するが，そのICは，放射線に強いかもしれないがそれの使い方やそれの加工法，製作者の能力がそろって初めて成功しているわけであって同じものを使ったからと言って信頼性が上がっているかどうかわからない気がします．
とどのつまりこの衛星開発において放射線対策による信頼性の増加量を，ほかのそれに対して順位づけし，プロジェクト内で共有して思想を一貫させる必要があるのではないかと思った次第です．おわり．
go ni