JTAG / 集積回路、基盤の検査・デバッグ用インターフェイス

－Finging a JTAG on iPhones 関連（覚書）－

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JTAG とは．．．　

JTAG ＝ Joint Test Action Group

集積回路、基盤の検査やデバッグに使うためのテスト用インターフェイス（テストアクセスポート）。

標準 IEEE 1149.1 の通称。

JTAGを利用することで、ＣＰＵやＰＬＤ（製造後に内部論理回路の定義や変更も行えるプログラマブルロジックデバイス）にアクセスして、回路内のDATAを修正することも可能。

複数のデバイスをラインで一連に繋ぎ、一方の端のPINがOUTPUT用のTDI、もう一方がOUTPUT用のTDO。それぞれのデバイスには、クロック信号送信用のTCKとモードの選択用のTMSへのラインも接続されている。

TDI ＝ Test Data In
TDO ＝ Test Data Out
TCK ＝ Test Clock
TMS ＝ Test Mode Select
TRST ＝ Test ReSet （オプション）

Michi-kusa