『No.151 半導体検査用の微細な針 高強度で寿命3倍』

No.151 半導体検査用の微細な針　
高強度で寿命3倍
ヨコオ、材料や工程見直し

開発したのは大規模集積回路(LSI)の電極に当てて電気を流し

回路が正常に機能するか検査するための針。

針の素材のなる金属や表面にめっきする材料などを改良したほか、

製造工程も見直すことで針の強度を高めた。