米国JFK空港で

顔認証

NEC 160万人の画像、

0.3秒で

【ニューヨーク=稲井創一】

NECは

米国ニューヨークの

玄関口である

ジョン・エフ・ケネディ 

(JFK)空港に

入国審査用の

顔認証システムを

本格稼働させました。

160万人のデータベース

画像を0.3秒で

スピード審査できる

能力があり、

画質の悪い画質も

正確に照合できるのが

特徴だ。

国際線利用者の

入国審査時間短縮は

米国主要空港で

課題で

NECは他の空港での

採用も目指す。

主要な旅客ターミナルが

6つあるJFK空港で、

NECの顔認証システムは

3つのターミナルで

導入する。

入国審査の際の

自動審査装置に

組み入れ、

パスポートに登録した

写真と装置の備えつけ

カメラで撮影した

顔写真を照合して、

同一人物であるか

確認する。

米国では2001年9月の

同時テロ以降、

空港の安全・身元審査が

厳格化。

米国屈指の

国際線空港である

JFK空港でも夕方など

国際線の到着便が

集中する時間帯では、

入国審査に

数時間かかるケースも

頻発していた。

NEC製の精度と

スピード性能の高い 

顔認証システムの導入で

各空港で自動審査装置の

普及が進みそうだ。

NECは顔認証のほかに

指紋やDNAなどの

生体認証技術全般に

強い。

海外での安全事業を

15年度の400億円から、

18年度末までに

1400億円まで

引き上げる計画を

進めます。